本刊讯（记者 高杰）11月16日，“高可靠性功率器件及系统的测试与保障”研讨会在香格里拉大酒店举行，国际、国内著名的半导体企业、半导体行业协会以及行业专家齐聚一堂，共同探索功率器件世界的无穷奥秘。会上，由西安创业园与西安芯派电子科技有限公司合作建设的西安半导体功率器件应用测试中心正式揭牌。
     此次研讨会由西安高新区创业园发展中心与西安芯派电子有限公司联合举办。陕西省商务厅副厅长宋民生，中国半导体行业协会秘书长陈贤，西安市科技局副局长武海潮出席仪式。
     研讨会上，STI公司总裁Bran-don Bailey、美国ITC公司技术开发总监David J. Lohr等业内知名专家同与会者分享了半导体功率器件测试技术的发展以及新型半导体功率器件测试行业等有关情况与资讯。
     西安功率器件测试应用中心是一家为半导体功率器件和电源IC提供研发测试与分析的开放性实验室，由西安创业园与西安芯派电子科技有限公司合作建设。测试中心由应用/系统测试、可靠性实验室、器件测试、失效分析实验室构成。通过产品测试、系统测试、性能研究、可靠性实验、失效分析等技术手段，为半导体功率器件的设计、生产和应用提供完整的设计开发验证、生产质量监测、产品认证、成品测试、应用测试和客户技术支持等全方位的服务。
      据了解，西安半导体功率器件应用测试中心已与国内多所知名院校建立了合作实验室、大学生实习公共服务平台和人员定向联合培养等多种合作关系。并与多个研究机构、上下游制造企业形成了多方位的合作关系，现已成为Global Sources的合作伙伴，美国Qual-mark/STI/ITC合作实验室、中国电源学会等全球著名商业机构及国内学术机构的指定测试应用实验室。
                                                                                                                                                                                                                                              来源：开发区报道

二、 会议地点：香格里拉酒店二楼西安厅；

三、 会议主题：高可靠性功率器件及系统的测试与保障研讨会，暨西安半导体功率器件应用测试中心挂牌仪式。

四、 会议议程：