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微 电 子 测 试 设 备 |
| 序号 |
设备名称 |
设备型号 |
能力 |
| 1 |
大规模数字集成电路测试设备 |
J750(图一) |
测试CPU、PFGA、ASIC等大规模数字电路，可测试交流参数;具备A/D、D/A测试能力。（256PIN，100MHZ） |
| 2 |
大规模数字集成电路测试设备 |
SENTRY-VII(图二) |
测试单片机、接口电路、中小规模等数字电路，可测试交流参数。（60PIN，10MHZ。） |
| 3 |
大规模模拟集成电路测试设备 |
LTX77(图三) |
可测试运算放大器、比较器、模拟开关、稳压IC、AD/DA、音频电路、dc-dc转换器、驱动/接收器等各种复杂集成电路(精度电压精度0.3mv? 电流精度1na 电压加载能力+/-100v 电流加载能力+/-10a) |
| 4 |
半自动中测探针台 |
1034A6中测探针台(图四)
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6英寸，半自动探针台。 |
| 5 |
逻辑分析仪 |
TLA 623 |
102条通道，200MHZ，500pS精度。 |
| 6 |
颗粒碰撞噪声检测设备
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501L-PIND设备 |
可对500g以下器件进行PIND试验。 |
| 中心拥有从美国进口的测试设备如J750、SENTRY-VII 等测试设备40多台套。 |
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